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超聲測(cè)厚介紹

更新時(shí)間:2008-04-08 點(diǎn)擊量:3739
超聲測(cè)厚是一種廣泛使用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù),它用來(lái)從材料一側(cè)測(cè)量材料厚度。在19世紀(jì)40年代后期,利用由聲納衍生的原理產(chǎn)生了*臺(tái)商業(yè)超聲測(cè)厚儀器。在19世紀(jì)70年代,小型便攜式儀器由于優(yōu)化了大多數(shù)檢測(cè)應(yīng)用而被廣泛應(yīng)用。之后,在微處理技術(shù)上的發(fā)展使得如今的、便于使用的小型儀器的性能達(dá)到了一個(gè)新的水平。
可測(cè)量什么?
幾乎任何一種普通工程材料都可以用超聲方法來(lái)測(cè)量。超聲測(cè)厚儀可用于金屬、塑料、復(fù)合材料、纖維玻璃、陶瓷和玻璃。在線或加工過(guò)程中的擠壓塑料和金屬的測(cè)量是可行的,同樣也可測(cè)量多層軋制冷作件或涂層。液面高度和生物學(xué)樣品也可測(cè)量。超聲測(cè)量一直是*無(wú)損的方法,它無(wú)需切開測(cè)量物。
常規(guī)的超聲測(cè)量一般不適用于包括木頭、紙、混凝土和泡沫產(chǎn)品的材料。
超聲測(cè)厚儀如何工作?
聲能能在一個(gè)很寬的頻譜范圍產(chǎn)生,能聽到的聲音存在在一個(gè)相當(dāng)?shù)偷念l率范圍,其上限約為每秒20000個(gè)周期(20KHz)。頻率越高,我們感覺的音調(diào)越高。超聲是一個(gè)在很高頻率的聲能,超過(guò)了人類能聽到的界限。大部分超聲測(cè)試是在頻率范圍從500KHz到20MHz之間實(shí)施的,但是某些特殊的儀器頻率低至50KHz甚至更低并且高至225MHz。無(wú)論是什么頻率,聲能都由根據(jù)物理學(xué)波的基本定律,通過(guò)空氣或鋼介質(zhì)來(lái)傳播的機(jī)械振動(dòng)模式組成。
所有的超聲測(cè)厚儀由稱之為超聲波換能器的探頭產(chǎn)生一個(gè)聲脈沖,能測(cè)量它通過(guò)測(cè)試塊的行程時(shí)間多長(zhǎng)。因?yàn)槁暡〞?huì)在不同的材料邊界反射,一般在“脈沖/回波"模式下從一側(cè)來(lái)實(shí)施測(cè)量,這樣儀器測(cè)量了在試塊遠(yuǎn)側(cè)或底面回波的反射脈沖之間的來(lái)回傳播時(shí)間。
探頭包含一個(gè)由短電脈沖激發(fā)來(lái)產(chǎn)生一個(gè)超聲波脈沖的壓電晶片。聲波耦合進(jìn)入試塊并在其中傳播,直到遇到背壁面或其他邊界。反射信號(hào)會(huì)往回傳播到探頭,將聲能轉(zhuǎn)換為電能。事實(shí)上,儀器接收來(lái)自另一側(cè)的回波,時(shí)間間隔只有百萬(wàn)分之幾秒。儀器用在測(cè)試材料中的聲速進(jìn)行編程,從而能夠使用簡(jiǎn)單的數(shù)學(xué)關(guān)系式來(lái)計(jì)算厚度:
T = V x t/2
此處:
  • T=工件厚度
  • V=在檢測(cè)材料中的聲速
  • t =測(cè)量的來(lái)回傳播時(shí)間


檢測(cè)材料中的聲速實(shí)計(jì)算中的一個(gè)基本組成部分,注意到這一點(diǎn)是重要的。不同的材料以不同的聲速傳播聲波,一般來(lái)說(shuō),在堅(jiān)硬的材料中聲速更快而在柔軟的材料中聲速更慢,而且聲速會(huì)隨溫度明顯變化。因此,經(jīng)常需要對(duì)超聲測(cè)厚儀校準(zhǔn)被測(cè)材料的聲速,而且達(dá)到精度只能和校準(zhǔn)的精度一樣好。
在MHz范圍的聲波不能有效地通過(guò)空氣傳播,因此在探頭和試塊之間常用一滴液體耦合劑來(lái)獲得良好的聲波傳播。常用的耦合劑為甘油、丙二醇、水、油和凝膠體。只需要一點(diǎn)點(diǎn)量,就足夠填滿這極薄的空氣層,否則它就會(huì)在探頭和試塊間存在空隙。
常用的測(cè)量聲波在試塊中傳播的時(shí)間間隔的方法有三種。模式1是zui 常用的方法,只需簡(jiǎn)單測(cè)量在產(chǎn)生聲波的激勵(lì)脈沖和*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔,并減去用來(lái)補(bǔ)償儀器、電纜線和探頭延遲的微小的零位偏移值即可。模式2測(cè)量來(lái)自試塊表面的回波和*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。模式3測(cè)量在兩個(gè)相繼底面回波之間的時(shí)間間隔。探頭類型和特定的應(yīng)用要求通常會(huì)規(guī)定模式的選擇。
探頭類型
直接接觸式探頭:正如名稱所表明的那樣,直接接觸式探頭用于與試塊直接接觸。使用接觸式探頭的測(cè)量通常是zui容易實(shí)現(xiàn)的,對(duì)于非腐蝕測(cè)量的大多數(shù)常規(guī)測(cè)厚應(yīng)用,它們經(jīng)常是的方法。
延遲線探頭:延遲線探頭將一個(gè)由塑料、環(huán)氧或熔融硅作為一體的柱體作為在激發(fā)元件和試塊之間的延遲線。使用它們的主要原因是用于薄材料測(cè)量,在這種情況,將激發(fā)脈沖和底面回波分離開來(lái)是非常重要的。延遲塊可用作熱絕緣體,防止對(duì)熱敏感的探頭晶片直接和熱的工件接觸;同時(shí)延遲線也可為具有形狀或仿形狀用來(lái)改善對(duì)尖銳曲面或狹窄面上的聲能耦合。
水浸探頭:水浸探頭使用柱狀水或水池來(lái)將聲能耦合入試塊,它們也可用于移動(dòng)產(chǎn)品的在線或加工過(guò)程中的測(cè)量;是用于在小半徑、凹槽的掃描的測(cè)量或耦合優(yōu)化。
雙晶探頭:雙晶片的探頭,或簡(jiǎn)稱為雙晶探頭,主要用于粗糙、腐蝕表面的測(cè)量。它有獨(dú)立的發(fā)射晶片和接收晶片,以一個(gè)小角度安裝在延遲塊上從而將能量聚焦在試塊表面下的一個(gè)選定的距離上。雖然有時(shí)候雙晶探頭測(cè)量不如其他類型探頭,在腐蝕測(cè)量應(yīng)用中它們通常能提供顯著的良好的性能。
4.需考慮的事情
在任意超聲測(cè)厚應(yīng)用中,儀器和探頭的選擇取決于被測(cè)材料、厚度范圍、幾何形狀、溫度、精度要求以及可能存在的一些特殊條件。下面列出了需要考慮的主要因素:
材料:被測(cè)的材料類型和厚度范圍在選擇儀器和探頭時(shí)是zui重要的因素。許多普通工程材料,包括大多數(shù)金屬、陶瓷和玻璃能夠很有效地傳播超聲,因此有一個(gè)很廣的厚度范圍可以很容易地被測(cè)量。大部分塑料會(huì)更快地吸收超聲能量,因此其zui大厚度范圍有更多的限制,但是在許多制造業(yè)情況依然能夠很容易地完成測(cè)量。橡膠、纖維玻璃和許多復(fù)合材料衰減更大而且經(jīng)常需要具有優(yōu)化低頻操作的脈沖/接收的高穿透力儀器。
厚度:厚度范圍也影響該選擇的儀器和探頭類型。一般而言,薄材料用高頻探頭,厚的或衰減性材料用低頻探頭,延遲塊探頭用于非常薄的材料,雖然延遲塊探頭(和液浸探頭)由于多次界面回波的干擾在zui大可測(cè)厚度上會(huì)有更多的限制。在那些涉及到比較寬的厚度范圍并且/或者多層材料的情況下,可能需要不止一種類型的探頭。
幾何形狀:當(dāng)工件表面曲率增加時(shí),在探頭和試塊間的耦合效果會(huì)降低,因此當(dāng)曲率增加時(shí),探頭尺寸一般都要減小。在一個(gè)半徑極小,尤其是凹面時(shí),可能需要特殊的仿型延遲塊探頭或非接觸液浸探頭來(lái)達(dá)到適當(dāng)?shù)穆曬詈?。延遲式探頭和液浸式探頭也可用于凹槽、孔和限制性接觸的類似區(qū)域。
溫度:常規(guī)接觸式探頭一般用于的表面溫度約為125° F或50° C。在更高溫度的材料上使用,大多數(shù)直接接觸式探頭可能會(huì)由于熱膨脹效應(yīng)導(dǎo)致*性損壞。在那些應(yīng)用中,應(yīng)該一直使用帶有耐熱延遲線的延遲線探頭、液浸探頭或高溫雙晶探頭。
相位顛倒:由低聲阻抗材料(密度乘聲速)粘合到高聲阻抗材料的特殊應(yīng)用,典型例子包括在鋼或其他金屬的上的塑料、橡膠、玻璃的覆蓋層、以及在纖維玻璃上的聚合體覆蓋層。在這些情況下來(lái)自兩種材料界間的回波將會(huì)相位顛倒,或相對(duì)于空氣邊界的回波相位反向。這種情況通常建議在儀器上做簡(jiǎn)單的設(shè)置改變,但是如果不把這一點(diǎn)考慮進(jìn)去,讀數(shù)將是不準(zhǔn)確的。
精度:在一個(gè)給定的應(yīng)用中,許多因素會(huì)影響測(cè)量的精度,包括正確的儀器校準(zhǔn)、材料聲速的均勻性、聲衰減和散射、表面粗糙度、曲率、聲耦合不良、以及底面不平行度。在選擇儀器和探頭時(shí)所有這些因素都應(yīng)該考慮進(jìn)去。采用正確的校準(zhǔn),測(cè)量通??蛇_(dá)到精度為±0.001"或0.01mm,而且在某些應(yīng)用中精度可達(dá)到0.0001"或0.001mm。在一個(gè)給定的應(yīng)用中,精度通過(guò)使用知道厚度的參考試塊來(lái)確定。通常,使用延遲塊或液浸探頭的模式3來(lái)測(cè)量的儀器可zui地測(cè)得工件的厚度。