• FISCHERSCOPE MMS PC涂鍍層測(cè)量?jī)xFISCHERSCOPE MMS PC
    FISCHERSCOPE MMS PC涂鍍層測(cè)量?jī)xFISCHERSCOPE MMS PC

    集鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試與一體,F(xiàn)ISCHERSCOPE® MMS® PC是一款簡(jiǎn)潔并極其通用的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng)帶數(shù)據(jù)檔案和測(cè)量數(shù)據(jù)處理能力??捎糜谑止さ臉悠窓z測(cè),以及過(guò)程控制和生產(chǎn)過(guò)程中的晝夜監(jiān)控??膳浜掀贩N繁多的測(cè)量探頭以適用于各種不同幾何形狀和測(cè)量范圍的測(cè)試工件

    更新時(shí)間:2024-08-15型號(hào):FISCHERSCOPE MMS PC
  • 美國(guó)DeFelsko PosiTector200涂層測(cè)厚儀
    美國(guó)DeFelsko PosiTector200涂層測(cè)厚儀

    測(cè)量快速,重復(fù)性好 大部分材料上無(wú)需校準(zhǔn) 調(diào)零功能可應(yīng)用在粗糙不平的表面及曲面上 無(wú)法調(diào)零時(shí)可使用方便的重啟功能 堅(jiān)固耐磨損的紅寶石探頭

    更新時(shí)間:2024-08-15型號(hào):美國(guó)DeFelsko PosiTector200
  • DMC-211日本電測(cè)(ELEC FINE )渦電流式涂鍍層測(cè)厚儀DMC-211
    DMC-211日本電測(cè)(ELEC FINE )渦電流式涂鍍層測(cè)厚儀DMC-211

    1.金屬上的各種皮膜(鋁上氧化膜,鐵上鍍鋅、鉻等的電鍍、涂裝)或非金屬上的各種金屬 (塑膠上的鍍層等)可以在短時(shí)間內(nèi)非破壞測(cè)量其厚度,適合各種檢測(cè) 2.由于使用電腦,校正、測(cè)定等操作相當(dāng)簡(jiǎn)單,可以直接選取各種測(cè)量模式。螺絲頂部、線材 等小部件和壓鑄件制品同樣可容易測(cè)定。

    更新時(shí)間:2024-08-15型號(hào):DMC-211
  • CT-3日本電測(cè)(ELEC FINE )電解式鍍層測(cè)厚儀CT-3
    CT-3日本電測(cè)(ELEC FINE )電解式鍍層測(cè)厚儀CT-3

    1、各種鍍層(多層、合金)的精密測(cè)量; 2、除平板形外,還可以通過(guò)提供的圖表測(cè)量圓形、棒形(細(xì)線)等各種形狀 3、可高精度測(cè)量其它方式不易測(cè)量的三層以上的鍍層; 4、可制作非破壞式膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板;

    更新時(shí)間:2024-08-15型號(hào):CT-3
  • TM1200涂層測(cè)厚儀TM1200涂層測(cè)厚儀
    TM1200涂層測(cè)厚儀TM1200涂層測(cè)厚儀

    TM1200涂層測(cè)厚儀 鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。又可測(cè)量非導(dǎo)磁金屬基體上非導(dǎo)電履蓋層厚度。例如:測(cè)量鋁的陽(yáng)極氧化層以及鋁、銅、鋅等材料表面上油漆、噴塑和橡膠履蓋層的厚度。

    更新時(shí)間:2024-08-15型號(hào):TM1200涂層測(cè)厚儀
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